1399/06/12 09:46
اندازه گیری نانومتری میزان زبر سطح با دستگاه ساخت ایران
به گزارش نماد برتر، پروفایلومتر یکی از ضروری‌ترین دستگاه‌ها در آزمایشگاه‌های لایه‌نازک است و به منظور رفع نیازمندی‌های کشور یکی از شرکت‌های فعال در حوزه نانو اقدام به تولید و عرضه این دستگاه به بازار کرده است. این دستگاه ابزاری برای اندازه‌گیری پروفایل سطحی است که به کمک آن می‌توان برخی مشخصه‌های سطحی نظیر زبری، انحنا، برآمدگی و فرورفتگی‌های سطحی را تعیین کرد.
این دستگاه قادر به اندازه گیری ارتفاع مشخصه‌های سطحی از 10 نانومتر تا یک میلی‌متر است و شعاع نوک پروب نیز می‌تواند از 20 نانومتر تا 50 میکرومتر تغییر کند. همچنین، رزولوشن افقی به سرعت اسکن و نرخ نمونه‌برداری از سیگنال‌ها وابسته است. نیروی وارده از پروب به سطح نمونه می‌تواند از ۱ تا ۵۰ میلی‌گرم متغیر باشد.
یکی از مزیت‌های قابل توجه این دستگاه آن است که چون در مد تماسی کار می‌کند، داشتن اطلاعاتی از جنس لایه و زیرلایه‌ای که قرار است پروفایلومتری شود، اهمیتی ندارد.
پروفایلومتر را می‌توان با میکروسکوپ‌های پروبی روبشی نظیر AFM قیاس کرد. تفاوت مهم آن است که در میکروسکوپ‌های AFM توپوگرافی معمولا به صورت سه بعدی رسم می‌شود، در حالی که در پروفایلومتر بررسی مشخصه‌های سطحی در یک بعد و نتیجه نهایی به صورت پروفایل دو بعدی رسم می‌شود. رسم پروفایل سطحی فقط در یک بعد هر چند اطلاعات کمتری نسبت به توپوگرافی‌های سطحی ارائه می‌دهد، اما در واقع، برای بسیاری از کاربردها در حوزه‌هایی نظیر میکروالکترونیک، اپتیک، صنایع رنگ‌سازی، صنایع آبکاری، لایه نشانی، زیست شناسی، پزشکی و داروسازی داشتن اطلاعات به صورت پروفایل دو بعدی کفایت می‌کند؛ بنابراین نیازی به استفاده از روش پرهزینه‌تر و وقت‌گیرتر توپوگرافی با میکروسکوپ‌های AFM نیست.
بر اساس اعلام ستاد نانو، این شرکت فعالیت خود را در سال 1393 با همکاری اعضای هیئت علمی دانشگاه‌های تهران و تربیت مدرس و دانش آموختگان این دانشگاه‌ها در زمینه‌های مختلف فناوری نانو از قبیل ساخت تجهیزات و ارائه خدمات در حوزه سنتز نانو مواد آغاز کرد.
